目的 分析磁共振灌注成像(MR-PWI)联合ABCD2评分预测短暂性脑缺血发作(TIA)后7 d内发生脑梗死风险的价值。方法 TIA患者113例,分别进行MR-PWI检查和ABCD2评分,分析MR-PWI检查结果、ABCD2评分与TIA后7 d内脑梗死发生率的关系。结果 113例患者TIA后7 d内发生脑梗死36例,发生率为31.86%。113例患者ABCD2评分结果为低危64例,中危33例,高危16例,TIA后7 d内脑梗死发生率分别为10.93%、51.52%、75.00%,其发生率呈低危组<中危组<高危组(P<0.05)。ABCD2评分与TIA后7 d内脑梗死发生率呈正相关关系(P<0.05)。MR-PWI检查正常组73例、异常组40例,TIA后7 d内脑梗死发生率分别为16.44%、60.00%,正常组脑梗死发生率明显低于异常组(P<0.05)。MR-PWI异常且ABCD2≥4分组脑梗死发生率明显高于MR-PWI正常且ABCD2<4分组、MR-PWI异常且ABCD2<4分组(P<0.05)。结论 MR-PWI联合ABCD2评分对预测TIA后早期脑梗死发生风险有重要的价值。